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分類相関解析ツール

テーマコード・FIまたは審査室コード:
□四部審査室相関図
□三部審査室相関図
□二部審査室相関図
□一部審査室相関図
■全庁審査室相関図全庁技術分野相関図->AU相関図 (5FO x 2KXL)

副分類 光デバイス 光デバイス 光デバイス 光制御 光制御 光制御 液晶素子 液晶素子 液晶素子
主分類 2K 2K 2K 2X 2X 2X 2L 2L 2L
受光素子 太陽電池 発光素子 一般・半導体レーザー 光ビームの制御 光ファイバー 液晶 可変吸収 機械的光制御
電子デバイス 5F 基本素子 57
0
82
0
22
0
16
0
3
0
2
0
2029
0.13
76
0
0
0
電子デバイス 5F 記憶素子 6
0
1
0
7
0
0
0
5
0
0
0
29
0
2
0
15
0
電子デバイス 5F 光IC 1091
0.2
14
0
23
0
48
0
6
0
18
0
28
0
1
0
3
0
電子デバイス 5F 特殊素子 33
0
13
0
71
0.01
49
0
2
0
0
0
2
0
0
0
0
0
デバイスプロセス 5O プロセス一般 40
0
31
0
134
0
61
0
0
0
8
0
643
0.04
1
0
1
0
デバイスプロセス 5O 単工程プロセス 64
0
424
0.03
688
0.05
416
0.03
9
0
14
0
180
0.01
2
0
7
0
デバイスプロセス 5O 複合プロセス 49
0
198
0.01
222
0.02
238
0.02
7
0
8
0
730
0.06
15
0
26
0
<主・副を反転させる>


* 各セルの上段の数値は主分類Aに対して副分類Bが付与されているものの件数、下段の数値はスコア(任意の副分類を有する主分類Aの全件のうち副分類Bが付与されているものの割合)を表します。
* 関連する技術分類の集合は、上記スコアを用いたクラスター分析の結果に基づいて抽出しています。
* 2000年1月〜2014年3月に出願された審査請求済案件3163966件を解析の対象としています。
* 審査室とテーマコード等との対応関係は、2014年4月時点のものです。