このページではJavaScriptを使用しています。 検索ポータルトップへ戻る

分類相関解析ツール

テーマコード・FIまたは審査室コード:
□四部審査室相関図
□三部審査室相関図
□二部審査室相関図
□一部審査室相関図
■全庁審査室相関図全庁技術分野相関図->AU相関図 (3CPU x 2FS)

副分類 計測 計測 距離・電気測定 距離・電気測定 距離・電気測定
主分類 2F 2F 2S 2S 2S
時計・計測一般 流れ・力 距離測定 測長・測量 電気の測定
生産機械 3C 携帯工具 1
0
19
0
1
0
24
0
8
0
生産機械 3C 工作機械 42
0
17
0
0
0
153
0
10
0
特殊加工 3P プレス加工 2
0
2
0
0
0
25
0
0
0
特殊加工 3P マイクロマシン 17
0.01
142
0.11
0
0
44
0.03
4
0
特殊加工 3P レーザ加工・溶接 15
0
10
0
1
0
105
0.01
12
0
特殊加工 3P 押出・引抜 0
0
4
0
1
0
32
0.03
1
0
特殊加工 3P 製品の加工 3
0
5
0
0
0
14
0
1
0
特殊加工 3P 装飾技術 9
0
1
0
0
0
0
0
0
0
特殊加工 3P 半導体材料の機械的処理 1
0
7
0
0
0
45
0
1
0
特殊加工 3P 非金属の加工 1
0
1
0
1
0
10
0
0
0
特殊加工 3P 放電加工 0
0
1
0
0
0
2
0
0
0
ロボティクス 3U ウエハ等の取扱い 28
0
5
0
0
0
61
0
35
0
ロボティクス 3U マニプレータ 10
0
42
0
9
0
80
0.01
11
0
ロボティクス 3U 工作機械の制御 5
0
0
0
0
0
27
0.01
1
0
ロボティクス 3U 自動組立 2
0
3
0
1
0
6
0
2
0
ロボティクス 3U 制御調整 145
0.01
128
0.01
62
0
86
0.01
21
0
ロボティクス 3U 生産管理 8
0
2
0
2
0
1
0
3
0
<主・副を反転させる>


* 各セルの上段の数値は主分類Aに対して副分類Bが付与されているものの件数、下段の数値はスコア(任意の副分類を有する主分類Aの全件のうち副分類Bが付与されているものの割合)を表します。
* 関連する技術分類の集合は、上記スコアを用いたクラスター分析の結果に基づいて抽出しています。
* 2000年1月〜2014年3月に出願された審査請求済案件3163966件を解析の対象としています。
* 審査室とテーマコード等との対応関係は、2014年4月時点のものです。