このページではJavaScriptを使用しています。 検索ポータルトップへ戻る

分類相関解析ツール

テーマコード・FIまたは審査室コード:
□四部審査室相関図
□三部審査室相関図
□二部審査室相関図
□一部審査室相関図
■全庁審査室相関図全庁技術分野相関図->AU相関図 (4BN x 2FS)

副分類 計測 計測 距離・電気測定 距離・電気測定 距離・電気測定
主分類 2F 2F 2S 2S 2S
時計・計測一般 流れ・力 距離測定 測長・測量 電気の測定
生命工学 4B 遺伝子・蛋白質工学 2
0
0
0
0
0
1
0
1
0
食品・微生物 4N 食料品 8
0
8
0
0
0
0
0
0
0
食品・微生物 4N 発酵・細胞工学 10
0
4
0
0
0
5
0
0
0
<主・副を反転させる>


* 各セルの上段の数値は主分類Aに対して副分類Bが付与されているものの件数、下段の数値はスコア(任意の副分類を有する主分類Aの全件のうち副分類Bが付与されているものの割合)を表します。
* 関連する技術分類の集合は、上記スコアを用いたクラスター分析の結果に基づいて抽出しています。
* 2000年1月〜2014年3月に出願された審査請求済案件3163966件を解析の対象としています。
* 審査室とテーマコード等との対応関係は、2014年4月時点のものです。