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分類相関解析ツール

テーマコード・FIまたは審査室コード:
□四部審査室相関図
□三部審査室相関図
□二部審査室相関図
□一部審査室相関図
■全庁審査室相関図全庁技術分野相関図->AU相関図 (4ER x 5BNS)

副分類 情報処理 情報処理 情報処理 記憶管理 記憶管理 記憶管理 情報セキュリティ 情報セキュリティ
主分類 5B 5B 5B 5N 5N 5N 5S 5S
アーキテクチャー ソフト実行管理 デバッグ・AI ICカード ケーブル処理 電線 コンピュータセキュリティ 暗号
素材加工 4E 圧延 2
0
0
0
2
0
2
0
0
0
1
0
0
0
0
0
素材加工 4E 金属の表面処理 0
0
0
0
0
0
2
0
2
0
77
0
0
0
0
0
素材加工 4E 精錬 0
0
0
0
0
0
1
0
1
0
6
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0
0
0
0
素材加工 4E 鋳造 2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
3
0
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0
0
0
素材加工 4E 電解処理 0
0
0
0
0
0
4
0
0
0
46
0
0
0
0
0
樹脂加工 4R 樹脂成形1 2
0
0
0
1
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13
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9
0
10
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0
0
0
0
樹脂加工 4R 樹脂成形2 0
0
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0
0
0
16
0
23
0
27
0
0
0
0
0
<主・副を反転させる>


* 各セルの上段の数値は主分類Aに対して副分類Bが付与されているものの件数、下段の数値はスコア(任意の副分類を有する主分類Aの全件のうち副分類Bが付与されているものの割合)を表します。
* 関連する技術分類の集合は、上記スコアを用いたクラスター分析の結果に基づいて抽出しています。
* 2000年1月〜2014年3月に出願された審査請求済案件3163966件を解析の対象としています。
* 審査室とテーマコード等との対応関係は、2014年4月時点のものです。