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ホーム > 制度・手続 > 外国知的財産権情報 > 外国産業財産権制度情報 > 欧州特許庁 審査便覧/B部 目次

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欧州特許庁 審査便覧/B部 目次

条項目次

欧州特許庁

審査便覧/B部
調査のためのガイドライン

2000年6月改正

第I章 序文

第II章 総論 

第III章 調査の性質

第IV章 調査手続及び方策

第V章 欧州特許出願の分類

第VI章 技術水準

第VII章 発明の単一性

第VIII章 調査対象から除外する主題 

第IX章 調査資料

第X章 調査報告書

第XI章 要約

第XI章の附属書類 :第XI章6で言及した一般的ガイドライン

[更新日 2004年4月1日]