【技術分類】

　４−13　ＢＯＳＴ

【技術の名称】

　４−13−１　アナログＢＯＳＴ

【技術内容】

　近年、半導体の微細化により、回路規模の増大や測定精度の高度化がテストコストを増加させている。ここでは、ＬＳＩテスタ装置コストの削減方法として、ロジック・テスタを使用してＡ−Ｄ／Ｄ−Ａコンバータのテストを行うアナログＢＯＳＴ（Built-Out　Self-test）の構成を示す。

　（１）回路構成

　図１に示されるように、制御部、データ格納部、データ解析部、測定部から構成される。制御部はロジック・テスタと接続され、ロジック・テスタからのコントロール信号を受け、測定結果をテスタ側に送る。測定部は被テストデバイスと接続され、デジタル、アナログ信号をやりとりする。

　（２）回路動作

　ＢＯＳＴのコントロールは制御部が行う。テスタからのスタート信号とクロック信号を受けて各部が動作する。測定部はアナログ信号の取り込みと出力、またデジタル信号の取り込みと出力を行う。取り込まれたデータはデータ格納部に記憶され、データ解析部で特性が解析され、判定される。この判定結果のみテスタに送られる。

【図】

　図１　アナログＢＯＳＴのハードウエア構成

　出典：「装置コストを従来の１／20〜１／100に抑えるアナログＢＯＳＴ」、「Design Wave Magazine 2001 March」、(2001年３月１日)、花井寿佳、山田真二、森長也、山下栄作、船倉輝彦著、ＣＱ出版社発行、81頁　〔図４〕　アナログＢＯＳＴのハードウエア構成

【応用分野】

　ＬＳＩテスト

【出典／参考資料】

　「装置コストを従来の１／20〜１／100に抑えるアナログＢＯＳＴ」、「Design Wave Magazine 2001 March」、(2001年３月１日)、花井寿佳、山田真二、森長也、山下栄作、船倉輝彦著、ＣＱ出版社発行、77頁〜84頁