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本技術集の構成
１．本技術集は、ＬＳＩのテストのためのＬＳＩ内部回路に関する技術を以下の分野に大別して編集した。 （技術分野） １ スキャンテスト ２ バウンダリ・スキャン ３ コアテスト ４ ロジックＢＩＳＴ ５ メモリＢＩＳＴ ６ 特定ＬＳＩ・回路 ２．上記の技術分野を技術分類毎に細分化し、該当する技術を収集整理した。一つの技術毎に【技術分類】、【技術の名称】、【技術内容】、【図】、【応用分野】、【出典／参考資料】の各項目を設け、技術を解説した。
１．本文中の表記については、可能なかぎり統一したが、業界内で統一されていない技術用語もあり、文献において用いられている用語をそのまま採用したところもある。 ２．本技術集に掲載されている技術を使用（実施）する場合には、出願の有無等を確認し、他人の権利を侵害しないように注意されたい。 ３．本技術集に掲載されている技術に基づき、製品を製造・加工等したことにより生じた損害等については、特許庁はその責任を負うものではない。 ４．本技術集の著作権は基本的に特許庁に帰属する。また、本文中に記載されている出典元のデータ、図面、イラスト、特性資料等は各々出典元に著作権が帰属する。 |