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ホーム > 資料・統計 > 刊行物・報告書 > 標準技術集 > LSIのテストのためのLSI内部回路

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LSIのテストのためのLSI内部回路

1 スキャンテスト

2 バウンダリ・スキャン

3 コアテスト

4 Logic BIST

5 Memory BIST

6 特定LSI・回路

LSIのテストのためのLSI内部回路関連の略語一覧

[更新日 2002年6月28日]

お問い合わせ

特許庁総務部企画調査課技術動向班
電話:03-3581-1101 内線2155
FAX:03-3580-5741
E-mail:PA0930@jpo.go.jp