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その他参考情報

半導体製造装置関連真空・クリーン化技術

<この記事に関する問い合わせ先>

  特許庁総務部企画調査課技術動向班  
  電話:03-3581-1101 内線2155
  FAX:03-3580-5741
  E-mail:PA0930@jpo.go.jp


はじめに
本技術集の構成
利用上の留意事項
委員名簿

調査対象技術の樹形図
調査対象技術の技術概要(PDF形式 222KB)

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真空・クリーン化技術が使用される半導体製造装置
1−1ウエーハ製造装置における技術説明
1−1−1単結晶引き上げ装置(1)
1−1−1単結晶引き上げ装置(2)
1−2マスク製造装置における技術説明
1−3イオン注入装置における技術説明
1−3−1大電流イオン注入装置
1−3−2中電流イオン注入装置
1−3−3高エネルギーイオン注入装置
1−4エピタキシャル成長装置における技術説明
1−4−1分子線エピタキシャル(MBE)成長装置
1−4−2気相エピタキシャル成長装置
1−4−3液相エピタキシャル成長装置
1−4−4固相エピタキシャル成長装置
1−5CVD装置における技術説明
1−5−1熱CVD装置
1−5−1−1コールドウォールLPCVD
1−5−1−2ホットウォールLPCVD
1−5−1−3MOCVD装置
1−5−1−4ALCVD(Atomic Layer CVD)
1−5−2プラズマCVD装置
1−5−2−1陽極結合型PECVD
1−5−2−2ECR-PECVD装置
1−6真空蒸着装置における技術説明
1−6−1抵抗加熱蒸着装置
1−6−2電子ビーム蒸着装置
1−6−3イオンプレーティング
1−7スパッタ装置における技術説明
1−7−1マグネトロンスパッタ装置
1−7−1−1DCマグネトロンスパッタ装置(1)
1−7−1−1DCマグネトロンスパッタ装置(2)
1−7−1−2RFマグネトロンスパッタ装置
1−7−2ECRスパッタ装置
1−8ドライエッチング装置における技術説明
1−8−1プラズマエッチング装置
1−8−1−1ダウンフロー型ケミカルドライエッチング装置
1−8−1−2陽極結合平行平板型PE装置
1−8−1−3円筒バレル型PE装置
1−8−2反応性イオンエッチング装置
1−8−2−1陰極結合平行平板型RIE装置
1−8−2−2ヘキソード型RIE装置
1−8−2−3ナローギャップ型RIE装置
1−8−2−4トライオード型RIE装置
1−8−2−5マグネトロン型RIE装置(1)
1−8−2−5マグネトロン型RIE装置(2)
1−8−2−6ICP型RIE装置(1)
1−8−2−6ICP型RIE装置(2)
1−8−2−7有磁場μ波型RIE装置(1)
1−8−2−7有磁場μ波型RIE装置(2)
1−8−2−8ヘリコン波エッチング装置
1−8−2−9SWP型RIE装置
1−8−2−10NLD型RIE装置
1−8−2−11有磁場UHF波-ECR型RIE装置
1−8−3反応性イオンビームエッチング装置
1−8−3−1ECR型RIBE装置
1−8−3−2カウフマン型RIBE装置
1−8−3−3ICP型RIBE装置
1−9レジスト剥離装置(アッシング装置)における技術説明
1−9−1プラズマアッシング装置
1−9−1−1バレル型アッシング装置
1−9−1−2枚葉式プラズマアッシング装置
1−9−1−3ダウンフロー型アッシング装置
1−9−2光励起アッシング装置
1−9−3オゾンアッシング装置

真空チャンバー外で使用される真空・クリーン化技術応用部品
2−1真空バルブ
2−1−1L型バルブ(1)
2−1−1L型バルブ(2)
2−1−1L型バルブ(3)
2−1−2コンダクタンス可変バルブ(1)
2−1−2コンダクタンス可変バルブ(2)
2−1−2コンダクタンス可変バルブ(3)
2−1−2コンダクタンス可変バルブ(4)
2−1−3ゲートバルブ(1)
2−1−3ゲートバルブ(2)
2−1−3ゲートバルブ(3)
2−1−3ゲートバルブ(4)
2−1−4ガスストップバルブ(1)
2−1−4ガスストップバルブ(2)
2−1−4ガスストップバルブ(3)
2−1−4ガスストップバルブ(4)
2−1−5リークバルブ(1)
2−1−5リークバルブ(2)
2−1−5リークバルブ(3)
2−1−5リークバルブ(4)
2−2真空ポンプ
2−2−1油回転真空ポンプ(1)
2−2−1油回転真空ポンプ(2)
2−2−1油回転真空ポンプ(3)
2−2−1油回転真空ポンプ(4)
2−2−2ドライポンプ(1)
2−2−2ドライポンプ(2)
2−2−2ドライポンプ(3)
2−2−3ターボ分子ポンプ(1)
2−2−3ターボ分子ポンプ(2)
2−2−3ターボ分子ポンプ(3)
2−2−3ターボ分子ポンプ(4)
2−2−4クライオポンプ(1)
2−2−4クライオポンプ(2)
2−2−4クライオポンプ(3)
2−2−4クライオポンプ(4)
2−2−5ソープションポンプ
2−2−6イオンポンプ
2−2−7ルーツポンプ(1)
2−2−7ルーツポンプ(2)
2−3真空計測器
2−3−1ダイアフラム真空計
2−3−2電離真空計(1)
2−3−2電離真空計(2)
2−3−2電離真空計(3)
2−3−3熱電対真空計
2−3−4複合真空計
2−3−5ピラニ真空計(1)
2−3−5ピラニ真空計(2)
2−4ガス導入機器
2−4−1マスフローコントローラ(1)
2−4−1マスフローコントローラ(2)
2−4−2フィルタ
2−4−3ガス配管(1)
2−4−3ガス配管(2)
2−4−4継手(1)
2−4−4継手(2)
2−5排ガス処理装置
2−5−1化学吸着式処理装置(1)
2−5−1化学吸着式処理装置(2)
2−5−2燃焼式処理装置
2−5−3乾式排ガス処理装置
2−5−4熱酸化分解式排ガス処理装置
2−6残留ガス分析系
2−6−1四重極ガス分析装置(1)
2−6−1四重極ガス分析装置(2)
2−6−1四重極ガス分析装置(3)
2−7フィードスルー部品
2−7−1コバールシール式観測窓
2−7−2セラミックシール式電流導入端子(1)
2−7−2セラミックシール式電流導入端子(2)
2−7−2セラミックシール式電流導入端子(3)
2−7−3磁気シール式回転導入端子
2−7−4ベローシール式回転導入端子(1)
2−7−4ベローシール式回転導入端子(2)
2−7−5"O"リング式回転導入端子
2−7−6磁気浮上式直線駆動導入端子
2−7−7直線駆動導入端子(1)
2−7−7直線駆動導入端子(2)
2−8リークデテクター
2−8−1ヘリウムリークデテクター(1)
2−8−1ヘリウムリークデテクター(2)
2−9フランジおよびガスケット
2−9−1ニトリルゴム
2−9−2フッ素ゴム
2−9−3パーフロロエラストマー
2−9−4メタル"O"リング
2−9−5金線ガスケット
2−9−6ナイフエッジ型メタルシールフランジ用銅ガスケット
2−9−7ナイフエッジ型メタルシールフランジ(1)
2−9−7ナイフエッジ型メタルシールフランジ(2)
2−9−8JIS真空フランジ(1)
2−9−8JIS真空フランジ(2)
2−9−9クイックカップリング
2−9−10クランプフランジ(1)
2−9−10クランプフランジ(2)
2−9−11KFフランジ
2−10電源
2−10−1DC電源(1)
2−10−1DC電源(2)
2−10−2RF電源
2−10−3マイクロ波電源
2−11制御装置
2−11−1蒸発制御装置
2−11−2膜厚制御装置
2−11−3エッチング終点検出装置(1)
2−11−3エッチング終点検出装置(2)
2−11−3エッチング終点検出装置(3)
2−11−3エッチング終点検出装置(4)

真空チャンバー内で使用される真空・クリーン化技術応用部品
3−1真空チャンバー
3−1−1石英・アルミナチャンバー
3−1−2プロセスチャンバー(1)
3−1−2プロセスチャンバー(2)
3−1−2プロセスチャンバー(3)
3−1−3ロードロックチャンバー
3−1−4搬送チャンバー(1)
3−1−4搬送チャンバー(2)
3−2クラスターツール
3−2−1真空内搬送スカラー型ロボット(1)
3−2−1真空内搬送スカラー型ロボット(2)
3−2−2ロードロック真空室(1)
3−2−2ロードロック真空室(2)
3−2−3フロッグレッグ型ロボット
3−3プラズマ源
3−3−1ECRプラズマ源
3−3−2RIEプラズマ源
3−3−3ヘリコン波プラズマ源
3−3−4二周波放電源(1)
3−3−4二周波放電源(2)
3−4スパッタ源
3−4−1マグネトロンスパッタ源
3−4−2ECRスパッタ源
3−4−3コリメートスパッタ源
3−5蒸発源
3−5−1電子ビーム蒸発源(1)
3−5−1電子ビーム蒸発源(2)
3−5−2抵抗加熱蒸発源
3−5−3分子線セル(1)
3−5−3分子線セル(2)
3−6成膜原材料
3−6−1スパッタターゲット
3−6−2CVDガス
3−6−3エッチングガス
3−7基板保持機構
3−7−1静電チャック(1)
3−7−1静電チャック(2)
3−7−2メカニカルチャック
3−7−3基板保持回転機構
3−7−4基板上昇機構
3−7−5加熱機構(1)
3−7−5加熱機構(2)
3−7−5加熱機構(3)
3−7−5加熱機構(4)
3−7−5加熱機構(5)
3−7−5加熱機構(6)
3−7−6冷却機構
3−8その他
3−8−1チャンバー内表面処理機構
3−8−2基板加熱用石英ランプヒーター

その他クリーン化技術
4−1ウエーハ搬送系
4−1−1ウエーハ搬送ボックス
4−2洗浄
4−3乾燥
4−4その他
4−4−1CMP装置

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[更新日  2004.3.26]