| 試料名称 | 測定量（パラメータ） |
関連顕微鏡、関連技術 |
| ・磁性物質 |
トンネル電流 |
スピン偏極-STM
【1−A−3−a】 |
| 漏洩磁場 |
走査型磁気抵抗顕微鏡
【1−B−4−b】 |
| ・磁性体（ハードディスクのような磁気記録メディア） |
ローレンツ力 |
Scanning Lorentz Force Microscopy
【1−I―1―a】 |
| ・Garnetのように、ドメインとストライプ状のゼロ磁場領域が縞模様をなしている試料 |
磁気力 |
Tunneling-stabilizedMagnetic Force Microscopy
【1−B−4−a2】 |
・パーマロイなどの磁気材料の磁気記録パターン
・磁気記録媒体(光磁気ディスク、磁気ディスク、フロッピーディスク､磁気テープなど)の磁気記録パターン |
磁気力 |
磁気力顕微鏡
【1−B−4−a1】 |
・光磁気ディスクの磁気ビットパターン
・層状ペロブスカイト構造の強磁性体〔例えばLa1.4Sr1.6MnO7〕の磁区構造
・ 希薄磁性半導体（例えば、(Ga,Mn)As）の磁区構造 |
電圧 |
走査型ホール素子顕微鏡
【1−B−4−e】 |
| ・光磁気記録ディスク磁気薄膜（例えば、Pt/Co人工格子薄膜） |
偏光 |
近接場磁気光学顕微鏡
【1−C−3−a】 |
| ・磁気薄膜ヘッド |
磁気力 |
高周波磁気力顕微鏡
【1−B−4−a3】 |
