• ホーム
  • お知らせ
  • 制度・手続
  • 施策・支援情報
  • 資料・統計
  • 特許庁について
  • お問い合わせ Q&A

ホーム > 特許庁について > 最近の動き > フォトギャラリー > 中国国家工商行政管理総局が特許庁を訪問しました

マイページ

使い方

マイメニューの機能は、JavaScriptが無効なため使用できません。ご利用になるには、JavaScriptを有効にしてください。

ここから本文です。

中国国家工商行政管理総局が特許庁を訪問しました

1月23日から25日に、中国における商標制度を管轄する中国国家工商行政管理総局(SAIC※)経済情報中心の付宏偉(Mr.Fu HongWei)副主任ら一行が、同局の商標出願システムを含む電子システム改善のため、特許庁の電子システム全般に関する意見交換を目的として、特許庁を訪問しました。

特許庁より、出願、方式審査、商標実体審査、閲覧システム等の電子システム全般について紹介するとともに、商標分野における今後の協力に向けた双方の関心事項について活発な議論が行われました。

また、SAIC一行は、特許庁のほか知的財産に関連する関係機関も訪問しました。 特許庁は、今後も、中国との知的財産に関する取組を強化していきます。

三木審査業務部長(前列中央)と付宏偉副主任(同中央左)ら一行
三木審査業務部長(前列中央)と付宏偉副主任(同中央左)ら一行

意見交換の様子
意見交換の様子

※SAIC:State Administration For Industry & Commerce (SAIC) of the People's Republic of China

[更新日 2017年2月1日]