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ホーム > 特許庁について > 最近の動き > 2018年6月 > 五庁長官会合が開催されました

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五庁長官会合が開催されました

2018年6月15日

6月14日に米国ニューオーリンズにおいて、日米欧中韓の五庁長官会合が開催され、特許庁から宗像長官、嶋野特許技監が出席しました。今次会合では、五庁協力体制の見直しに向けた検討状況を報告し、五庁における各プロジェクトの評価結果に合意しました。また、グローバルドシエに関連する優先的な取組みについて、新たな作業方針に合意しました。さらに、PCT国際出願の国際調査報告を五庁が協働して作成する枠組みを、平成30年7月1日から開始することに合意しました。

また、五庁長官会合に併せて6月13日に五庁長官・ユーザー会合が開催され、五庁協力の将来等について、積極的な意見交換が行われました。

この機会を捉え、米国特許商標庁、中国国家知識産権局との個別の意見交換を行いました。そして、米国特許商標庁との意見交換では、両庁間の意匠分野における協力に関する覚書に署名しました。

(写真01)五庁長官の集合写真
五庁長官の集合写真
左から、中国国家知識産権局:申局長、韓国特許庁:ソン庁長、米国特許商標庁:イアンク長官、欧州特許庁:バティステリ長官、日本国特許庁:宗像長官、世界知的所有権機関:サンデージ事務局次長

(写真02)米国特許商標庁との意見交換
米国特許商標庁との意見交換
左から、宗像長官、イアンク長官

グローバルな特許制度の整備に向けて前進しました~第11回日米欧中韓五庁長官会合の結果について~(経済産業省のページへ)

意匠分野における米国特許商標庁との協力関係を強化します(経済産業省のページへ)

五庁(IP5)

[更新日 2018年6月15日]