特許検索ポータルサイト

～先行技術調査をサポートする関連情報を掲載しています～

1.全技術分野共通の情報

1.特許制度の概要を知りたい。

特許法と審査基準の知識

＜全般的な説明＞

＜特定の制度の説明＞

優先権を伴う出願について（外部サイトへリンク）
調査業務を行う上で必要な、優先権を伴う出願における基準日の考え方等について分かりやすく解説したもの

実用新案やPCT制度の知識

• 実用新案登録出願の基礎的要件（テキスト）（PDF：1,290KB）
  実務に沿う形で基礎的要件を中心に、実用新案制度の概要、出願手続等をまとめたもの
• PCT制度について
  特許庁ホームページにて公開されている資料（知的財産権制度説明会(実務者向け)テキスト）

2.先行技術調査の概要を知りたい。

特許出願前に必要な知識

特許を出願する前にすることは？（外部サイトへリンク）
特許出願の前に公報等を調査するための方法について紹介

検索ツール

特許情報プラットフォーム（J-PlatPat）（外部サイトへリンク）
独立行政法人工業所有権情報・研修館が提供する無料の検索サービス

特許分類を用いた検索

＜基礎編＞

• 国際特許分類、FI、Fタームの概要とそれらを用いた先行技術調査（PDF：9,947KB）
  特許庁ホームページにて公開されている資料（知的財産権制度説明会（実務者向け）テキスト）
• 検索の考え方と検索報告書の作成（外部サイトへリンク）
  効率的に最適な先行技術文献を発見するため、Fターム検索等の基礎的手法、並びに検索報告書に記載する基本的事項を説明したもの（調査業務実施者育成研修テキスト）

＜実践編＞

• 特許文献検索実務（理論と演習）（外部サイトへリンク）
  特許情報プラットフォーム(J-PlatPat)を利用して、進歩性等の特許要件を考慮しながら行う特許文献検索実務を解説したもの(検索エキスパート研修［中級］)
• 先行技術文献調査実務［第三版］（外部サイトへリンク）
  発明の認定等について審査基準に準拠して解説すると共に、特許庁の審査官が使用している検索端末を利用して検索を行う場合の検索手法等について解説したもの(検索エキスパート研修［上級］)

2.技術分野別の情報

1.分類の一次情報を知りたい。

• Fタームリスト・FI照会・IPC照会（外部サイトへリンク）
  パテントマップガイダンスにおける各種分類の検索機能
• FI改正情報
  特許庁ホームページに掲載されているFI改正情報
• Fタームテーマコード一覧情報
  特許庁ホームページに掲載されているテーマコード一覧表
• IPC第8版分類表
  特許庁ホームページに掲載されているIPC第8版(2006.01)分類表及びその更新情報（差分分類表）日本語版

2.欲しい分類を探すサポートツールを知りたい。

• 分類の相関性を加味してFターム,FIを検索するツール
  着目するテーマとフリーワードによって、関連する検索キーを得るためのツール
• 分類の相関性を表示させるツール
  特許庁内における分類相関性を様々な階層レベルで表示させるツール
• 国内外の分類の対応関係参照ツール
  IPC, FI, ECLA, CPCの対応関係がより簡便に調査・参照でき、サーチの際の参考とするためのツール

3.技術分野別の検索手法を知りたい。

• テーマ別検索ガイダンス
  テーマ別に設けた、検索実例や検索手法等へのリンク
• 特許検索ガイドブックへのリンク
  特許庁ホームページに掲載されている「特許検索ガイドブック」の公表について
• （参考）特許出願技術動向調査へのリンク
  特許庁ホームページに掲載されている特許出願技術動向調査報告へのリンク

［更新日　2016年9月30日］

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調整課審査システム企画班 電話：03-3581-1101 内線3108 FAX：03-3580-8122