特許検索ポータルサイト

〜先行技術調査をサポートする関連情報を掲載しています〜


Ⅰ.全技術分野共通の情報

1.特許制度の概要を知りたい。

◆特許法と審査基準の知識

<全般的な説明>

知的財産権制度入門テキスト

知的財産権をこれから学びたい、興味があるなど、初心者等を対象にした知的財産権に関する「初心者向け説明会」のテキスト

特許法概論・審査基準

調査業務を行うのに必要な、特許法、審査基準の基礎的な知識を分かりやすく解説したもの

特許の審査基準及び審査の運用

特許庁ホームページにて公開されている資料(知的財産権制度説明会(実務者向け)テキスト)

<特定の制度の説明>

優先権を伴う出願について

調査業務を行う上で必要な、優先権を伴う出願における基準日の考え方等について分かりやすく解説したもの

◆実用新案やPCT制度の知識

実用新案登録出願の基礎的要件(テキスト) <PDF 3,310KB>

実務に沿う形で基礎的要件を中心に、実用新案制度の概要、出願手続等をまとめたもの

PCT制度について

特許庁ホームページにて公開されている資料(知的財産権制度説明会(実務者向け)テキスト)

2.先行技術調査の概要を知りたい。

◆特許出願前に必要な知識

特許を出願する前にすることは?

特許出願の前に公報等を調査するための方法について紹介

◆検索ツール

特許電子図書館(IPDL)

独立行政法人工業所有権情報・研修館が提供する無料の検索サービス

◆特許分類を用いた検索

<基礎編>

国際特許分類、FI、Fタームの概要とそれらを用いた先行技術調査 <PDF 9,081KB>

特許庁ホームページにて公開されている資料(知的財産権制度説明会(実務者向け)テキスト)

検索の考え方と検索報告書の作成

効率的に最適な先行技術文献を発見するため、Fターム検索等の基礎的手法、並びに検索報告書に記載する基本的事項を説明したもの(調査業務実施者育成研修テキスト)

<実践編>

特許文献検索実務(理論と演習)

特許電子図書館(IPDL)を利用して、進歩性等の特許要件を考慮しながら行う特許文献検索実務を解説したもの(検索エキスパート研修[中級])

先行技術文献調査実務[第三版]

発明の認定等について審査基準に準拠して解説すると共に、特許庁の審査官が使用している検索端末を利用して検索を行う場合の検索手法等について解説したもの(検索エキスパート研修[上級])

Ⅱ.技術分野別の情報

1.分類の一次情報を知りたい。

Fタームリスト・FI照会・IPC照会

パテントマップガイダンスにおける各種分類の検索機能

FI改正情報

特許庁ホームページに掲載されているFI改正情報

Fタームテーマコード一覧情報

特許庁ホームページに掲載されているテーマコード

一覧表

IPC第8版分類表

特許庁ホームページに掲載されているIPC第8版(2006.01)分類表及びその更新情報(差分分類表)

日本語版

2.欲しい分類を探すサポートツールを知りたい。

分類の相関性を加味してFターム,FIを検索するツール

着目するテーマとフリーワードによって、関連する検索キーを得るためのツール

分類の相関性を表示させるツール

特許庁内における分類相関性を様々な階層レベルで表示させるツール

国内外の分類の対応関係参照ツール

IPC, FI, ECLA, CPCの対応関係がより簡便に調査・参照でき、サーチの際の参考とするためのツール

3.技術分野別の検索手法を知りたい。

テーマ別検索ガイダンス

テーマ別に設けた、検索実例や検索手法等へのリンク

特許検索ガイドブックへのリンク

特許庁ホームページに掲載されている「特許検索ガイドブック」の公表について

(参考)特許出願技術動向調査へのリンク

特許庁ホームページに掲載されている特許出願技術動向調査報告へのリンク

  • <この記事に関するお問い合わせ先>
  • 特許庁調整課審査システム企画班
  • 電話:03-3581-1101 内線3108
  • E-mail:お問い合わせフォーム

[更新日 2013.4.2]

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