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中国国家工商行政管理総局との意見交換を行いました

日本国特許庁と中国国家工商行政管理総局(SAIC※)は、11月13日、中国北京市において意見交換を行いました。

我が国からは宗像長官、SAICからは劉俊臣(LIU Junchen)副局長が出席し、両国における審査処理促進に関する取り組み、非伝統的商標に関する動向、執行面での協力、今後の両国のハイレベルおよび実務レベルでの交流等について意見交換を行いました。

特許庁は、今後も、中国との知的財産分野での協力を更に進めてまいります。

(写真)宗像長官と劉副局長
宗像長官と劉副局長

(写真)意見交換の様子
意見交換の様子

※SAIC:State Administration for Industry & Commerce of the People's Republic of China

[更新日 2017年11月15日]