G01Q  10/00		走査または位置決め装置，すなわち，プローブの動きあるいは位置を積極的に制御するための装置［２０１０．０１］	Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe	1018
G01Q  10/02	・	粗動走査または粗動位置決め［２０１０．０１］	Coarse scanning or positioning	654
G01Q  10/04	・	微動走査または微動位置決め［２０１０．０１］	Fine scanning or positioning	1379
G01Q  10/06	・・	それらのための回路またはアルゴリズム［２０１０．０１］	Circuits or algorithms therefor	887
G01Q  20/00		プローブの動きまたは位置の監視［２０１０．０１］	Monitoring the movement or position of the probe	343
G01Q  20/02	・	光学的手段によるもの［２０１０．０１］	by optical means	934
G01Q  20/04	・	自己検知プローブ，すなわち，プローブ自身がその位置を示すような信号を発するもの，例．圧電ゲージ［２０１０．０１］	Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezoelectric gauge	452
G01Q  30/00		走査プローブ技術または装置の補助または改良に資する補助的手段，例．表示装置またはデータ処理装置［２０１０．０１］	Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices	347
G01Q  30/02	・	非ＳＰＭ分析装置，例．ＳＥＭ［走査型電子顕微鏡］，分光計または光学顕微鏡［２０１０．０１］	Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope	1756
G01Q  30/04	・	表示装置またはデータ処理装置［２０１０．０１］	Display or data processing devices	1049
G01Q  30/06	・・	エラー補償のためのもの［２０１０．０１］	for error compensation	358
G01Q  30/08	・	サンプルチェンバー内に所望の環境条件を確立し調節するための手段［２０１０．０１］	Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber	449
G01Q  30/10	・・	温度環境［２０１０．０１］	Thermal environment	292
G01Q  30/12	・・	流体環境［２０１０．０１］	Fluid environment	143
G01Q  30/14	・・・	液体環境［２０１０．０１］	Liquid environment	284
G01Q  30/16	・・	真空環境［２０１０．０１］	Vacuum environment	302
G01Q  30/18	・	外部の環境条件または影響からサンプルチェンバーの内部を保護しあるいは隔離するための手段［２０１０．０１］	Means for protecting or isolating the interior of a sample chamber from external environmental conditions or influences, e.g. vibrations or electromagnetic fields	228
G01Q  30/20	・	試料の取扱装置または手段［２０１０．０１］	Sample handling devices or methods	1302
G01Q  40/00		キャリブレーション，例．プローブのキャリブレーション［２０１０．０１］	Calibration, e.g. of probes	361
G01Q  40/02	・	キャリブレーションの基準またはその製造方法［２０１０．０１］	Calibration standards or methods of fabrication thereof	232
G01Q  60/00		特定の型のＳＰＭ［走査プローブ型顕微鏡］またはそのための装置；その基本的な構成部品［２０１０．０１］	Particular types of SPM [Scanning-Probe Microscopy] or apparatus therefor; Essential components thereof	1039
G01Q  60/02	・	マルチタイプＳＰＭ，すなわち２つまたはそれ以上のＳＰＭ技術を使用するもの［２０１０．０１］	Multiple-type SPM, i.e. involving two or more SPM techniques	123
G01Q  60/04	・・	ＳＴＭ［走査型トンネル顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］	STM [Scanning Tunnelling Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy]	113
G01Q  60/06	・・	ＳＮＯＭ［近視野光学顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］	SNOM [Scanning Near-field Optical Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy]	126
G01Q  60/08	・・	ＭＦＭ［磁気力顕微鏡法］とＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］の組合せ［２０１０．０１］	MFM [Magnetic Force Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy]	35
G01Q  60/10	・	ＳＴＭ［走査型トンネル顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＴＭ用プローブ［２０１０．０１］	STM [Scanning Tunnelling Microscopy] or apparatus therefor, e.g. STM probes	1779
G01Q  60/12	・・	ＳＴＳ［走査型トンネルスペクトロスコピー］［２０１０．０１］	STS [Scanning Tunnelling Spectroscopy]	152
G01Q  60/14	・・	ＳＴＰ［走査型トンネルポテンショメトリー］［２０１０．０１］	STP [Scanning Tunnelling Potentiometry]	67
G01Q  60/16	・・	プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］	Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders	873
G01Q  60/18	・	ＳＮＯＭ［近視野光学顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＮＯＭ用のプローブ［２０１０．０１］	SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SNOM probes	1016
G01Q  60/20	・・	蛍光［２０１０．０１］	Fluorescence	94
G01Q  60/22	・・	プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］	Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders	1029
G01Q  60/24	・	ＡＦＭ［原子間力顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＡＦＭ用のプローブ［２０１０．０１］	AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes	3326
G01Q  60/26	・・	摩擦力顕微鏡法［２０１０．０１］	Friction force microscopy	178
G01Q  60/28	・・	凝着力顕微鏡法［２０１０．０１］	Adhesion force microscopy	123
G01Q  60/30	・・	走査型ポテンシャル顕微鏡法［２０１０．０１］	Scanning potential microscopy	345
G01Q  60/32	・・	ＡＣモード［２０１０．０１］	AC mode	534
G01Q  60/34	・・・	タッピングモード［２０１０．０１］	Tapping mode	204
G01Q  60/36	・・	ＤＣモード［２０１０．０１］	DC mode	148
G01Q  60/38	・・	プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］	Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders	1854
G01Q  60/40	・・・	導電性プローブ［２０１０．０１］	Conductive probes	328
G01Q  60/42	・・・	機能化［２０１０．０１］	Functionalisation	213
G01Q  60/44	・	ＳＩＣＭ［走査型イオンコンダクタンス顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＩＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］	SICM [Scanning Ion-Conductance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SICM probes	121
G01Q  60/46	・	ＳＣＭ［走査型キャパシタンス顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］	SCM [Scanning Capacitance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SCM probes	159
G01Q  60/48	・・	プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］	Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders	52
G01Q  60/50	・	ＭＦＭ［磁気力顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＭＦＭ用のプローブ［２０１０．０１］	MFM [Magnetic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. MFM probes	283
G01Q  60/52	・・	磁気共鳴［２０１０．０１］	Resonance	56
G01Q  60/54	・・	プローブまたはその製造または関連する器具類，例．プローブホルダー［２０１０．０１］	Probes, their manufacture or their related instrumentation, e.g. holders	183
G01Q  60/56	・・・	磁気コーティングされたプローブ［２０１０．０１］	Probes with magnetic coating	74
G01Q  60/58	・	ＳＴｈＭ［走査型熱顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＴｈＭ用のプローブ［２０１０．０１］	SThM [Scanning Thermal Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SThM probes	129
G01Q  60/60	・	ＳＥＣＭ［走査型電気化学顕微鏡法］またはそのための装置，例．ＳＥＣＭ用のプローブ［２０１０．０１］	SECM [Scanning Electro-Chemical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SECM probes	173
G01Q  70/00		ＳＰＭプローブの一般的観点またはその製造または関連する器具類で，グループＧ０１Ｑ６０／００に包含される単一のＳＰＭ技術に特に適合していないもの［２０１０．０１］	General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group <b>G01Q60/00</b>	366
G01Q  70/02	・	プローブホルダー［２０１０．０１］	Probe holders	395
G01Q  70/04	・・	温度・震動に誘引されたエラーの補償のあるもの［２０１０．０１］	with compensation for temperature or vibration induced errors	107
G01Q  70/06	・	プローブチップアレイ［２０１０．０１］	Probe tip arrays	423
G01Q  70/08	・	プローブの特性［２０１０．０１］	Probe characteristics	322
G01Q  70/10	・・	形状またはテーパ［２０１０．０１］	Shape or taper	432
G01Q  70/12	・・・	ナノチューブチップ［２０１０．０１］	Nanotube tips	356
G01Q  70/14	・・	特定の物質［２０１０．０１］	Particular materials	416
G01Q  70/16	・	プローブの製造［２０１０．０１］	Probe manufacture	709
G01Q  70/18	・・	機能化［２０１０．０１］	Functionalisation	136
G01Q  80/00		ＳＰＭを除く走査プローブ技術の応用（マイクロ構造の製造または処理Ｂ８１Ｃ；ナノ構造物の製造または処理Ｂ８２Ｂ３／００；近接場相互作用を用いる情報の記録と再生Ｇ１１Ｂ９／１２，Ｇ１１Ｂ１１／２４，Ｇ１１Ｂ１３／０８）［２０１０．０１］	Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques(manufacture or treatment of microstructures <b>B81C</b>; manufacture or treatment of nanostructures <b>B82B3/00</b>; recording or reproducing information using near-field interaction <b>G11B9/12</b>, <b>G11B11/24</b> or <b>G11B13/08</b>)	1876
G01Q  90/00		他に分類されない走査プローブ技術または装置［２０１０．０１］	Scanning-probe techniques or apparatus not otherwise provided for	1124
