第21回日韓特許庁長官会合の結果概要

1.日程

2009年12月18日（金曜日）

2.場所

韓国・テジョン

3.出席者

• 日本国特許庁(JPO)：細野長官　他
• 韓国特許庁(KIPO)：ゴ・ジョンシク 庁長　他

4.会合の経緯

JPOとKIPOは両庁間の一年間の協力の成果と次年の行動計画を話し合うため、1983年より日韓特許庁長官会合を開催し、今回が第21回目の会合となります。韓国は我が国と極めて類似した制度を有しており、近年は隣国の特許庁として強固な協力関係を維持するとともに、制度・運用の調和、サーチ・審査結果の相互利用等に関する議論を進めています。

5.会合の概要

(1)日韓の地理的表示の目録の交換

両庁は、韓国の地理的団体標章および地理的表示と日本の地域団体商標のリストとを交換し、双方の商標審査の参考に供することに合意し、対応については今後専門家レベルで協議していくこととなりました。

(2)人材育成協力

両庁は、日韓の人材育成機関である日本の工業所有権情報・研修館(INPIT)と韓国の国際知識財産研修院(IIPTI)との間で協力覚書を作成することに合意し、今春を目途に覚書を締結し、両機関間で具体的な協力を行っていくこととなりました。

(3)多観点分類(Fターム)に関する協力

両庁は、多観点分類であるFタームの有用性を認識し、今後JPOよりKIPOに専門家を派遣し、Fタームについて協力を進めて行くことを確認しました。

(4)専門家会合等に関する協力

両庁間の意匠専門家会合、商標専門家会合、機械化専門家会合及び特許審査官の相互派遣等について、今後も継続して実施していくことになりました。

［更新日　2010年1月27日］

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