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産業構造審議会知的財産分科会
平成30年度第1回審査品質管理小委員会議事要旨

日時

平成30年2月18日(月曜日)10時00分~12時00分

場所

特許庁7階南側 庁議室

出席者

相澤委員長、淺見(節)委員、浅見(正)委員、飯村委員、井上委員、小原委員、長澤委員、本多委員、渡邉委員

議題

  • (1)審査品質管理の実施体制・実施状況に対する委員評価及び改善提案について
  • (2)審査品質管理の実施体制・実施状況に対する改善提案について

議事内容

  • 評価項目・評価基準に基づく評価の結果及び評価に基づく実施体制・実施状況に対する改善提案について討議いただいた。
  • 次回の小委員会では、報告書の案についてご審議いただく予定。

[更新日 2019年2月19日]

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