産業構造審議会知的財産分科会商標制度小委員会
第30回商標審査基準ワーキンググループ議事要旨

1. 日時・場所

日時：令和4年2月16日（水曜日）10時00分から11時40分

会場：特許庁9階 庁議室＋WEB会議室

2. 出席者

小塚座長、大西委員、金子委員、木村委員、齋藤委員、相良委員、田中委員、橋本委員

3. 議題

1. 新しいタイプの商標に関する商標審査基準の点検について
2. 令和2年商標法施行規則改正により適切な保護が可能となった立体商標の出願状況等のご報告

4. 議事内容

• 議題1について、事務局から資料1に基づいて、新しいタイプの商標に関する商標審査基準の点検の説明を行い、点検結果について了承された。また、今回の点検対象以外の審査基準についても将来的に見直すことを要望するとの意見が出された。
• 議題2について、事務局から資料2に基づいて、令和2年商標法施行規則改正により適切な保護が可能となった立体商標の出願状況等の報告を行った。

［更新日　2022年2月17日］

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