特許検索ポータルサイト

～先行技術調査をサポートする関連情報を掲載しています～

1.全技術分野共通の情報

1.特許制度の概要を知りたい

特許法と審査基準の知識

全般的な説明

実用新案やPCT制度の知識

• 実用新案の基礎的要件と審査の運用（PDF：700KB）
  実務に沿う形で基礎的要件を中心に、実用新案制度の概要、出願手続等をまとめたもの
• PCT国際出願制度の概要(PDF：3.3MB)
  特許庁ホームページにて公開されている資料（知的財産権制度説明会(実務者向け)テキスト）

2.先行技術調査の概要を知りたい

特許出願前に必要な知識

• 特許を出願する前にすることは？（外部サイトへリンク）
  特許出願の前に公報等を調査するための方法について紹介

検索ツール

• 特許情報プラットフォーム（J-PlatPat）（外部サイトへリンク）
  独立行政法人工業所有権情報・研修館が提供する無料の検索サービス

特許分類を用いた検索

• 特許分類の概要とそれらを用いた先行技術文献調査（PDF：5.0MB）
  特許庁ホームページにて公開されている資料（知的財産権制度説明会（実務者向け）テキスト）

2.技術分野別の情報

1.分類の一次情報を知りたい

• Fタームリスト・FI照会・IPC照会（外部サイトへリンク）
  パテントマップガイダンスにおける各種分類の検索機能
• FI改正情報
  特許庁ホームページに掲載されているFI改正情報
• Fタームテーマコード一覧情報
  特許庁ホームページに掲載されているテーマコード一覧表
• IPC第8版分類表
  特許庁ホームページに掲載されているIPC第8版(2006.01)分類表及びその更新情報（差分分類表）日本語版

2.欲しい分類を探すサポートツールを知りたい

• 国内外の分類の対応関係参照ツール
• シン・国内外の分類の対応関係参照ツール
  IPC, FI, CPCの対応関係がより簡便に調査・参照でき、サーチの際の参考とするためのツール

［更新日　2025年1月23日］

お問い合わせ

調整課審査システム企画班 電話：03-3581-1101 内線3108 FAX：03-3580-8122